產品詳情
簡單介紹：
天星ED400渦流測厚儀是ED300型測厚儀的改進型，儀器性能顯著提高。天星ED400渦流測厚儀主要用于測量鋁合金型材表面的陽極氧化膜或涂層厚度，還可用于測量其它鋁板、鋁管、鋁塑板、鋁零件表面的陽極氧化膜或涂層厚度，測量其他有色金屬材料上絕緣性覆蓋層的厚度，測量塑料薄膜及紙張厚度。
詳情介紹：
天星ED400渦流測厚儀
| 技術參數 |
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| 測量范圍： | 0～500 μm | |
| 測量精度： | 0～50 μm：±1 μm； | |
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50～500 μm：±2% | |
| 分辨率： | 0～50 μm：0.1 μm； | |
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50～500 μm：1 μm； | |
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0～500 μm：1 μm（可選） | |
| 使用溫度： | 5～45℃ | |
| 外形尺寸： | 150 mm×80 mm×30 mm |
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| 重量： | 280 g | |
標準配置：儀器主機（含探頭），校準基體，校準片，說明書，保修卡，合格證，儀器箱，第三方計量證書（校準片）。